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怎样检测喷砂除锈石英砂中杂质的含量？

发布时间：2025/2/22 17:02:35

化学分析法

• 二氧化硅含量测定：一般采用氢氟酸重量法或硅钼蓝分光光度法。氢氟酸重量法是将石英砂样品与氢氟酸和硫酸混合加热，使二氧化硅转化为四氟化硅挥发除去，通过称量剩余残渣的重量来计算二氧化硅的含量，进而间接了解杂质含量。硅钼蓝分光光度法则是将样品中的硅转化为硅钼杂多酸，再用还原剂将其还原为硅钼蓝，通过分光光度计测定吸光度，从而计算出二氧化硅的含量。

• 金属杂质含量测定：对于铁、铝、钙、镁等金属杂质，常采用原子吸收光谱法（AAS）或电感耦合等离子体发射光谱法（ICP - OES）。首先将石英砂样品用酸进行消解，使金属杂质转化为离子状态进入溶液，然后用 AAS 或 ICP - OES 测定溶液中各金属离子的浓度，即可得出金属杂质的含量。

物理分析法

• 筛分法测粒度杂质：使用一套标准筛，将一定量的石英砂样品放在最上层筛子上，进行振动筛分。筛分结束后，称量每个筛子上截留的颗粒重量，计算出不同粒度区间的颗粒分布情况，从而确定是否存在粒度不符合要求的杂质颗粒。如果在要求的粒度范围外有较多颗粒，则说明存在粒度杂质。

• 密度法测密度杂质：利用密度差异来检测杂质。先测量石英砂样品的整体密度，可以使用密度瓶法或气体置换法等。然后与纯石英砂的理论密度进行对比，如果样品密度明显偏离理论值，说明可能存在密度不同的杂质。例如，如果存在密度较大的重金属杂质，会使样品整体密度增大；而存在密度较小的有机物杂质，则可能使密度减小。

光学分析法

• 显微镜观察法：通过光学显微镜或电子显微镜对石英砂样品进行观察。可以直接观察到石英砂颗粒的表面形态、结构以及是否存在杂质颗粒。能直观地识别出如黏土矿物、云母片等杂质，还可以大致估算杂质的含量比例。同时，结合能谱仪（EDS）等设备，还可以对观察到的杂质进行成分分析。

• X 射线衍射分析（XRD）：XRD 可以确定石英砂中各种矿物相的组成。通过对样品进行 XRD 测试，得到衍射图谱，与标准图谱进行对比，从而分析出样品中的矿物成分，不仅能检测出杂质的种类，还能半定量地分析杂质的含量。例如，可以准确检测出是否含有长石、方解石等杂质矿物及其相对含量。

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